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高温高压下蛇纹石电学性质的阻抗谱分析
朱茂旭; 谢鸿森; 郭捷; 白武明; 许祖鸣
2000
发表期刊中国科学(D辑:地球科学)
期号6页码:634-641
其他摘要在2.5~4.0 GPa, 220~780℃下测定了蛇纹石的电导率, 并用阻抗谱分析了其微观电传导机制. 结果表明, 脱水前, 在阻抗谱上只出现代表颗粒内部传导机制的弧 Ⅰ, 且在高压下这种机制起主导作用. 脱水初期, 阻抗谱上开始出现代表颗粒边缘传导机制的弧Ⅱ. 脱水后, 因自由水形成了高导性网络, 电导率不再依赖于频率, 总电导率以自由水形成的网络的离子传导为主. 蛇纹石的脱水作用可使电导率增大, 通过这一机制可形成地球内部的高导层. 
关键词电导率 颗粒内部传导 自由水 脱水作用 模拟实验
学科领域地球深部物质与流体作用地球化学
收录类别SCI
语种中文
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.gyig.ac.cn/handle/352002/7169
专题地球内部物质高温高压实验室_地球内部物质高温高压实验室_期刊论文
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GB/T 7714
朱茂旭,谢鸿森,郭捷,等. 高温高压下蛇纹石电学性质的阻抗谱分析[J]. 中国科学(D辑:地球科学),2000(6):634-641.
APA 朱茂旭,谢鸿森,郭捷,白武明,&许祖鸣.(2000).高温高压下蛇纹石电学性质的阻抗谱分析.中国科学(D辑:地球科学)(6),634-641.
MLA 朱茂旭,et al."高温高压下蛇纹石电学性质的阻抗谱分析".中国科学(D辑:地球科学) .6(2000):634-641.
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