中文版 | English

在结果中检索

GYIG OpenIR

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助

限定条件                
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
一种原位制备复杂结构样品中纳米级颗粒的TEM样品的方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010556743.2, 申请日期: 2021-08-10,
发明人:  李瑞;  李阳;  钟怡江;  李雄耀;  刘建忠;  王世杰
收藏  |  浏览/下载：101/0  |  提交时间：2023/12/05
俄歇电子能谱在月壤纳米金属铁原位分析中的应用前景 会议论文
, 中国江苏南京, 2013-04-21
作者:  吴焱学;  李雄耀;  王世杰;  李世杰;  唐红
Adobe PDF(163Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：65/0  |  提交时间：2022/04/22
矿物晶体的缺陷 期刊论文
矿物岩石地球化学通报, 2012, 卷号: 31, 期号: 2, 页码: 160-164
作者:  陈丰;  李雄耀;  王世杰
Adobe PDF(359Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：327/29  |  提交时间：2012/06/18
矿物  晶体  缺陷  点缺陷  位错  石墨烯