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一种原位制备复杂结构样品中纳米级颗粒的TEM样品的方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: CN202010556743.2, 申请日期: 2021-08-10,
Inventors:  李瑞;  李阳;  钟怡江;  李雄耀;  刘建忠;  王世杰
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俄歇电子能谱在月壤纳米金属铁原位分析中的应用前景 会议论文
, 中国江苏南京, 2013-04-21
Authors:  吴焱学;  李雄耀;  王世杰;  李世杰;  唐红
Adobe PDF(163Kb)  |  Favorite  |  View/Download:66/0  |  Submit date:2022/04/22