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In situ high temperature X-ray diffraction study on high strength aluminous porcelain insulator with the Al2O3-SiO2-K2O-Na2O system 期刊论文
Applied Clay Science, 2016, 卷号: 132, 期号: 6, 页码: 760-767
作者:  GYIG-IR管理员
Adobe PDF(2212Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：128/0  |  提交时间：2017/11/22