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氧化硅层厚度对Si/SiO2界面电子态结构与光学性质的影响 期刊论文
光子学报, 2023, 卷号: 52, 期号: 1, 页码: 228-239
Authors:  王安琛;  黄忠梅;  黄伟其;  张茜;  刘淳;  王梓霖;  王可;  刘世荣
Adobe PDF(3545Kb)  |  Favorite  |  View/Download:94/0  |  Submit date:2023/10/18