GYIG OpenIR

浏览/检索结果: 共1条,第1-1条 帮助

限定条件    
已选(0)清除 条数/页:   排序方式:
氧化硅层厚度对Si/SiO2界面电子态结构与光学性质的影响 期刊论文
光子学报, 2023, 卷号: 52, 期号: 1, 页码: 228-239
作者:  王安琛;  黄忠梅;  黄伟其;  张茜;  刘淳;  王梓霖;  王可;  刘世荣
Adobe PDF(3545Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:90/0  |  提交时间:2023/10/18